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自立式6吋快速退火爐(RTP-3-06系列)

自立式6吋快速退火爐(RTP-3-06系列)

RTP-3-06系列自立式6吋快速退火爐采用紅外輻射加熱技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品(6英寸)快速升溫和降溫，可用于快速熱處理(RTP)、快速熱退火(RTA)、快速熱氧化(RTO)、快速熱氮化(RTN)及金屬合金化等半導(dǎo)體工藝。

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桌面式4吋快速退火爐(RTP-3-04系列)

桌面式4吋快速退火爐(RTP-3-04系列)

快速退火爐RTP-3-04系列采用紅外輻射加熱技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品（4英寸樣品）快速升溫和降溫，同時(shí)搭配超高精度溫度控制系統(tǒng)，可達(dá)到極佳的溫場(chǎng)均勻性，對(duì)材料的快速熱處理(RTP)、快速退火(RTA)、快速熱氧化(RTO)、快速熱氮化(RTN)及金屬合金化等研究和生產(chǎn)工作起到重要作用。

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桌面式1吋快速退火爐(RTP-3-01系列)

桌面式1吋快速退火爐(RTP-3-01系列)

快速退火爐RTP-3-01系列采用紅外輻射加熱技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)1吋(選配2吋)樣品快速升溫和降溫，同時(shí)搭配超高精度溫度控制系統(tǒng)，可達(dá)到極佳的溫場(chǎng)均勻性，對(duì)材料的快速熱處理(RTP)、快速退火(RTA)、快速熱氮化(RTN)、快速熱氧化(RTO)及金屬合金化等研究和生產(chǎn)起到重要作用。

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自立式8吋快速退火爐(RTP-3-08系列)

自立式8吋快速退火爐(RTP-3-08系列)

RTP-3-08系列自立式8吋快速退火爐采用紅外輻射加熱技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品(8英寸)快速升溫和降溫，可用于快速熱處理(RTP)、快速熱退火(RTA)、快速熱氧化(RTO)、快速熱氮化(RTN)及金屬合金化等半導(dǎo)體工藝。

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液氮低溫恒溫器(LNT-3）

液氮低溫恒溫器(LNT-3）

LNT-3系列液氮低溫恒溫器，是利用穩(wěn)態(tài)氣泡原理使樣品處于恒定或按照所需方式變化的低溫環(huán)境中，并能對(duì)樣品進(jìn)行一種或多種物理性能測(cè)量的低溫恒溫裝置。

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冷熱臺(tái)（LND）

冷熱臺(tái)（LND）

冷熱臺(tái)（LND）系列，可實(shí)現(xiàn)連續(xù)變溫及逐點(diǎn)控溫，控溫精度±0.1℃；通過(guò)控制熱源（電阻加熱器）和冷源（液氮）來(lái)維持樣品所要求溫度的一種裝置，其采用PID調(diào)節(jié)與模糊控制相結(jié)合的方式進(jìn)行溫度控制，能有效實(shí)現(xiàn)大溫區(qū)連續(xù)控制，按照既定程序升溫及保溫等。

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高低溫探針臺(tái)(LNP）

高低溫探針臺(tái)(LNP）

高低溫探針臺(tái)(LNP）系列，為小尺寸樣品測(cè)量電特性，提供高精度可控的測(cè)量環(huán)境，幫助精準(zhǔn)測(cè)量和分析判斷晶圓器件的性能。可以實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)測(cè)試、保護(hù)氣氛電路測(cè)試、高低溫真空探針臺(tái)、超高頻探針臺(tái)、光電流分析、FA失效分析等測(cè)量和分析平臺(tái)。

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霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)(HET-3RT)

霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)(HET-3RT)

霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)（霍爾效應(yīng)測(cè)試儀）HET-3RT依據(jù)范德堡法則測(cè)量材料的電運(yùn)輸性能參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)、方阻等，薄膜或薄層材料均可測(cè)量，可應(yīng)用于所有半導(dǎo)體材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可測(cè)量）,廣泛應(yīng)用于國(guó)內(nèi)高校、研究所、半導(dǎo)體、金屬、高熱導(dǎo)有機(jī)新材料等行業(yè)。

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薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)(MRS-3)

薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)(MRS-3)

薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)MRS-3專門針對(duì)薄膜材料的變溫seebeck系數(shù)和電阻率的測(cè)量?jī)x器，采用動(dòng)態(tài)法和四線法保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定，擁有寬廣的測(cè)試范圍和便捷的操作界面。

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熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)(Namicro-3)

熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)(Namicro-3)

熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)Namicro-3采用動(dòng)態(tài)法(具有專利技術(shù)-專利號(hào)：ZL201811242049.2發(fā)明專利)和四線法分別測(cè)量樣品的Seebeck系數(shù)和電阻率。Namicro-3主要是用于測(cè)試塊體熱電材料，包括康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半導(dǎo)體及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。

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便攜式熱電參數(shù)測(cè)試儀(PTM-5)

便攜式熱電參數(shù)測(cè)試儀(PTM-5)

便攜式熱電參數(shù)測(cè)試儀PTM-5可用于快速測(cè)試薄膜、塊體、纖維等不同形態(tài)熱電材料的Seebeck系數(shù)和電導(dǎo)率，為熱電材料的科學(xué)研究及產(chǎn)業(yè)效率的提升提供更專業(yè)、便攜的新選擇。

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薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)(TCT-3RT)

薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)(TCT-3RT)

薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)TCT-3RT采用3ω測(cè)試方法，利用微/納米薄膜材料導(dǎo)熱引起加熱器電信號(hào)的變化來(lái)檢測(cè)其熱導(dǎo)率?？沈?yàn)證薄膜材料在室溫條件下的熱導(dǎo)率性能差異。主要應(yīng)用范圍為微/納米薄膜材料的熱導(dǎo)率測(cè)量，可廣泛應(yīng)用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發(fā)，其涵蓋范圍包括集成電路散熱材料、航空航天材料、熱電材料與器件、信息存儲(chǔ)與光電器件等。

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光功率熱分析儀(OPA-3)

光功率熱分析儀(OPA-3)

光功率熱分析儀是世界首臺(tái)納米級(jí)薄膜材料物性分析儀，填補(bǔ)了國(guó)際對(duì)納米級(jí)薄膜材料無(wú)損檢測(cè)其相變溫度和熱膨脹系數(shù)的技術(shù)空白！不僅可用于檢測(cè)塊體，還可檢測(cè)低至1nm的薄膜材料。根據(jù)材料相變前后光學(xué)性質(zhì)（反射光功率）有較大差異的特性檢測(cè)材料的相變溫度，依據(jù)光干涉原理檢測(cè)透光材料的熱膨脹系數(shù)，融合了相變溫度分析儀和熱膨脹系數(shù)分析儀的兩項(xiàng)功能。

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熱膨脹系數(shù)分析儀(TEA-3)

熱膨脹系數(shù)分析儀(TEA-3)

熱膨脹系數(shù)分析儀采用創(chuàng)新的光干涉原理專利技術(shù)（專利號(hào)：ZL201410421128.5），可無(wú)損檢測(cè)塊體和薄膜樣品透明材料的熱膨脹系數(shù)，廣泛應(yīng)用于輔助各種新材料，尤其是薄膜材料的研究與開發(fā)以及質(zhì)量檢驗(yàn)。

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相變溫度分析儀(PCA-3)

相變溫度分析儀(PCA-3)

相變溫度分析儀采用具有專利技術(shù)的光學(xué)系統(tǒng)檢測(cè)原理，PCA不僅可以檢測(cè)多種塊體材料，還可以檢測(cè)各種薄膜樣品。可以進(jìn)行多項(xiàng)相變理論的實(shí)驗(yàn)研究，如：薄膜材料相變的尺寸效應(yīng)、結(jié)晶動(dòng)力學(xué)、薄膜軟化、溶化溫度等。

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教學(xué)霍爾系數(shù)測(cè)試儀(HET-3EL)

教學(xué)霍爾系數(shù)測(cè)試儀(HET-3EL)

教學(xué)霍爾系數(shù)測(cè)試儀(HET-3EL)，運(yùn)用范德堡法，可用于測(cè)試教學(xué)樣品的霍爾系數(shù)、載流子濃度、載流子遷移率等，可為大專院校提供專業(yè)、便捷、快速高效的教學(xué)實(shí)訓(xùn)服務(wù)。

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桌面式1吋快速退火爐-RTP-3E01（教學(xué)版）

桌面式1吋快速退火爐-RTP-3E01（教學(xué)版）

快速退火爐采用紅外輻射加熱技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)1吋(選配2吋)樣品快速升溫和降溫，同時(shí)搭配超高精度溫度控制系統(tǒng)，可達(dá)到極佳的溫場(chǎng)均勻性，對(duì)材料的快速熱處理(RTP)、快速退火(RTA)、快速熱氮化(RTN)、快速熱氧化(RTO)及金屬合金化等研究和生產(chǎn)起到重要作用。

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液氮低溫恒溫器-LNT-3E(教學(xué)版）

液氮低溫恒溫器-LNT-3E(教學(xué)版）

LNT系列液氮低溫恒溫器，是利用穩(wěn)態(tài)氣泡原理使樣品處于恒定或按照所需方式變化的低溫環(huán)境中，并能對(duì)樣品進(jìn)行一種或多種物理性能測(cè)量的低溫恒溫裝置。

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教學(xué)澤貝克系數(shù)測(cè)試儀(MRS-3EL)

教學(xué)澤貝克系數(shù)測(cè)試儀(MRS-3EL)

教學(xué)澤貝克系數(shù)測(cè)試儀(MRS-3EL)，運(yùn)用動(dòng)態(tài)法，可用于測(cè)試教學(xué)樣品的澤貝克系數(shù)，為大專院校提供專業(yè)、便捷、快速高效的教學(xué)實(shí)訓(xùn)服務(wù)。

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武漢嘉儀通科技有限公司

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ABOUT US

　　武漢嘉儀通科技有限公司成立于2009年，是以薄膜物性測(cè)量?jī)x器作為戰(zhàn)略定位，技術(shù)自主創(chuàng)新的高新技術(shù)企業(yè)。公司集研發(fā)、市場(chǎng)和技術(shù)服務(wù)于一體，且相繼被評(píng) 為湖北省“百人計(jì)劃 ”及武漢市政府“城市合伙人 ”企業(yè)。公司成立于 2009 年，總部位于中國(guó)·光谷，專注于薄膜材料物理性能測(cè)量?jī)x器的自主研發(fā)···

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材料熱分析、材料樣品制備與加工、材料電磁分析、材料力學(xué)分析、材料光學(xué)分析

江蘇大學(xué)1吋快速退火爐RTP-3S01實(shí)驗(yàn)

江蘇大學(xué)1吋快速退火爐RTP-3S01實(shí)驗(yàn)

江蘇大學(xué)1吋快速退火爐RTP-3S01升溫1200℃時(shí)軟件錄屏

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4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實(shí)驗(yàn)

4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實(shí)驗(yàn)

中科院半導(dǎo)體研究所4吋快速退火爐RTP-3S04升溫1200℃實(shí)驗(yàn)軟件錄屏

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1吋RTP-3S01快速退火爐實(shí)驗(yàn)升溫曲線圖

1吋RTP-3S01快速退火爐實(shí)驗(yàn)升溫曲線圖

清華大學(xué)1吋快速退火爐RTP-3S01系列升溫曲線圖

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4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實(shí)驗(yàn)曲線圖

4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實(shí)驗(yàn)曲線圖

浙江大學(xué)4吋快速退火爐RTP-3S04系列升溫曲線圖 4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實(shí)···

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薄膜變溫電阻測(cè)試儀TRT-3

薄膜變溫電阻測(cè)試儀TRT-3

大連理工大學(xué)使用嘉儀通薄膜變溫電阻測(cè)試儀TRT-3測(cè)試CuNiFe樣品電阻率隨溫度變化結(jié)果 ···

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霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)HET-3

霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)HET-3

山東大學(xué)使用嘉儀通霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)HET-3測(cè)試鈦酸鍶樣品的電阻率、霍爾系數(shù)、載流子濃度、遷移率數(shù)據(jù)···

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薄膜熱導(dǎo)測(cè)試系統(tǒng)TCT-3

薄膜熱導(dǎo)測(cè)試系統(tǒng)TCT-3

中科院上海微系統(tǒng)所購(gòu)買嘉儀通薄膜熱導(dǎo)測(cè)試系統(tǒng)TCT-3，測(cè)試SiO2薄膜樣品熱導(dǎo)數(shù)據(jù) &n···

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薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)MRS-3

薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)MRS-3

中科院化學(xué)所購(gòu)買嘉儀通薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)MRS-3，測(cè)試導(dǎo)電高分子薄膜樣品Seebeck系數(shù)和電阻···

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熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)Namicro-3

熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)Namicro-3

太原理工購(gòu)買嘉儀通熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)Namicro-3L，測(cè)試MgSi樣品Seebeck系數(shù)和電阻率數(shù)···

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相變溫度分析儀PCA-3

成都理工購(gòu)買嘉儀通相變溫度分析儀PCA-3，測(cè)試HfO2薄膜的相變溫度相變溫度分析儀PC···

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他們選擇了嘉儀通

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嘉儀通科技8吋快速退火爐被江蘇敏而精密科技有限公司順利驗(yàn)收

嘉儀通科技8吋快速退火爐成都理工大學(xué)順利驗(yàn)收

嘉儀通科技RTP-3S01快速退火爐華中科技大學(xué)順利驗(yàn)收

中國(guó)地質(zhì)大學(xué)和武漢嘉儀通展開合作

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?西安石油大學(xué)理學(xué)院蒞臨嘉儀通調(diào)研校企合作，共商人才培養(yǎng)與就業(yè)新路徑

?西安石油大學(xué)理學(xué)院蒞臨嘉儀通調(diào)研校企合作，共商人才培養(yǎng)與就業(yè)新路徑

2025-05-08

?西安石油大學(xué)理學(xué)院蒞臨嘉儀通調(diào)研校企合作，共商人才培養(yǎng)與就業(yè)新路徑

智匯光谷、激活未來(lái)：嘉儀通科技硬核產(chǎn)品亮相化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)

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2025-04-26

智匯光谷、激活未來(lái)：嘉儀通科技硬核產(chǎn)品亮相化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)

嘉儀通霍爾效應(yīng)測(cè)試儀：助力氧化鎵單晶產(chǎn)業(yè)突破

嘉儀通霍爾效應(yīng)測(cè)試儀：助力氧化鎵單晶產(chǎn)業(yè)突破

2025-03-26

嘉儀通霍爾效應(yīng)測(cè)試儀：助力氧化鎵單晶產(chǎn)業(yè)突破

中國(guó)計(jì)量院專家蒞臨嘉儀通，共話薄膜變溫霍爾測(cè)試技術(shù)新未來(lái)

中國(guó)計(jì)量院專家蒞臨嘉儀通，共話薄膜變溫霍爾測(cè)試技術(shù)新未來(lái)

2025-03-12

中國(guó)計(jì)量院專家蒞臨嘉儀通，共話薄膜變溫霍爾測(cè)試技術(shù)新未來(lái)

2024年全國(guó)大學(xué)生物理實(shí)驗(yàn)競(jìng)賽研討會(huì)嘉儀通展示創(chuàng)新物理實(shí)驗(yàn)儀器

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2024-05-18

2024年全國(guó)大學(xué)生物理實(shí)驗(yàn)競(jìng)賽研討會(huì)嘉儀通展示創(chuàng)新物理實(shí)驗(yàn)儀器

2024高等學(xué)校物理教學(xué)創(chuàng)新與發(fā)展研討會(huì)嘉儀通與各學(xué)者共同探討大學(xué)物理發(fā)展和創(chuàng)新路徑

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2024-05-10

2024高等學(xué)校物理教學(xué)創(chuàng)新與發(fā)展研討會(huì)嘉儀通與各學(xué)者共同探討大學(xué)物理發(fā)展和創(chuàng)新路徑

第一屆離子熱電材料研討會(huì)與嘉儀通攜手共筑學(xué)術(shù)社區(qū)

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2024-05-10

第一屆離子熱電材料研討會(huì)與嘉儀通攜手共筑學(xué)術(shù)社區(qū)

四線法教學(xué)電阻率測(cè)試儀

四線法教學(xué)電阻率測(cè)試儀

2023-08-24

四線法教學(xué)電阻率測(cè)試儀

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